Wybrane zagadnienia informatyki technicznej. Modelowanie i optymalizacja
Współtwórca: Data wydania: Temat i słowa kluczowe:obliczenia granularne ; algorytm V-Detector ; testy krokowe ; układy cyfrowe ; Verilog
Typ zasobu: Język: Prawa: Digitalizacja: Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
Miejsce wydania: Lokalizacja oryginału: